Спектрофотометр предназначен для регистрации зависимости доли света, прошедшего через объект, отраженного или рассеянного им, от длины волны, коэффициента пропускания и оптической плотности твёрдых и жидких проб. Используется в областях ближнего ИК, видимой части спектра и ближнего УФ.
Широкий набор приставок, держателей, кювет и других приспособлений делают данный прибор многофункциональным, позволяя исследовать образцы в различных состояниях: твердом, жидком, порошкообразном.
Основные характеристики
- спектральный диапазон (175 – 3300) нм;
- диапазон измерений спектральных коэффициентов направленного пропускания от 0 до 100 %;
- пределы допускаемой абсолютной погрешности спектрофотометра при измерении спектральных коэффициентов направленного пропускания ± 1,0 %;
- пределы допускаемой абсолютной погрешности установки длин волн ± 1,0 нм;
- спектральная ширина щели в спектральном диапазоне (230 – 280) нм составляет (0,01 – 5,0) нм;
- уровень рассеянного света при длине волны 340 нм не более 0,05 %;
- максимальная скорость сканирования: до 2000 нм/мин в области УФ и видимой, до 8000 нм/мин в области ближнего ИК;
- время интегрирования сигнала от 0.033 до 999 с;
- частота сбора кинетических данных 1800 точек/мин;
- нерегистрирующая скорость сканирования в видимом и УФ диапазонах до 16000 нм/мин;
- нерегистрирующая скорость сканирования в видимом и в ближнем ИК диапазоне до 64000 нм/мин.
Примеры работы
Спектры отражения света для наночастиц серебра, титана, никеля и кобальта. По данным спектрам можно определить отражающую способность материалов.
