Перечень типовых услуг
Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 600 FEG с системой микроанализа EDAX TridentXM 4 |
1. Морфология поверхности (разрешение ~ 10 нм) 2. Элементный анализ в точке ~ 1 мкм, по линии и по площади на глубине до 5 мкм 3. Кристаллографический анализ 4. Изображение магнитного контраста 5. Изображение вторично-отраженных электронов |
Оже-спектрометр PHI 700 |
1. Элементный анализ в точке ~ 9 нм, по линии и по площади на глубине до 50 Å 2. Элементный анализ по глубине 3. Морфология поверхности (разрешение ~ 10 нм) 4. Ионная чистка поверхности 5. Приготовление свежих сколов в вакууме |
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI Quantera |
1. Химический анализ в точке ~ 100 мкм, по линии и по площади на глубине до 50 Å 2. Элементный анализ в точке ~ 10 мкм, по линии и по площади на глубине до 50 Å 3. Элементный анализ по глубине 4. Химический анализ по глубине 5. Морфология поверхности (разрешение ~ 10 мкм) 6. Ионная чистка поверхности |
Рамановский спектрометр Horiba T64000. |
1. Проведение исследований фононов и электронных возбуждений 2. Химическая идентификация веществ 3. Изучение морфологии и фазового состава 4. Измерение размера наночастиц 5. Исследование распределения напряжений, дислокаций, измерения степени структурного беспорядка в различных твердых веществах 6. Структурная идентификация нанотрубок 7. Двумерное и трехмерное картографирование образцов |
Атомно-силовой микроскоп Veeco Dimension V |
1. Морфология поверхности (разрешение ~ 1 нм) 2. Измерение шероховатости поверхности 3. Качественное определение коэффициента трения 4. Карта распределения магнитных сил по поверхности 5. Токовое изображение поверхности 6. Карта распределения областей p- и n- проводимостей полупроводников 7. Карта распределения растекания 8. Наноиндентирование 9. Оксидирование |
Лазерный анализатор частиц Malvern Zetasizer Nano |
1. Средний радиус частиц 2. Вязкость 3. Дзета-потенциал (стабильность дисперсных систем) |
Инвертированный металлографический микроскоп отраженного света Carl Zeiss Axiovert 40 MAT |
1. Морфология поверхности с увеличением до ×1000 2. Исследования контрастирования в отраженном свете (светлое поле, дифференциально-интерференционный контраст, поляризация, флуоресценция) |
Спектрофлюориметр Cary Eclipse |
1. Флюоресценция 2. Фосфоресценция 3. Хемилюминесценция 4. Биолюминисценция |
Спектрофотометр Varian Cary 5000 |
1. Фотометрический анализ в области ближнего ИК, видимой части спектра и области ближнего УФ 2. Пропускание света 3. Поглощение света 4. Отражение света 5. Рассеяние света 6. Поляризационный анализ |
Лазерный фазовый интерференционный микроскоп МИМ-2.1 |
1. Трехмерный микрорельеф поверхности 2. Оптическая плотность |
Лазерный анализатор элементного состава веществ и материалов LEA-S500 |
1. Элементный анализ по площади 0,2-1,2 мм |
Многоцелевой рентгеновский дифрактометр Empyrean PANalytical |
1. Фазовый анализ 2. Определение параметров элементарной ячейки 3. Определение фаз по слоям 4. Микродифракция 5. Анализ текстуры, построение полюсных фигур 6. Определение напряжений и размера кристаллитов 7. Дефектоскопия |
Рентгеновский спектрометр PANalytical Axiosmax |
1. Элементный анализ от Be до U |
Стереоскопический микроскоп Nikon SMZ1500 |
1. Морфология поверхности с увеличением до ×500
|
Комплекс нанотехнологического оборудования «Умка 02L» |
1. Морфология поверхности с атомарным разрешением 2. Вольт-амперные характеристики |
Ультразвуковые ванны ПСБ-56035-05, Гранд 440-35 |
1. Очистка изделий и образцов 2. Увеличение скорости технологических процессов в жидких средах 3. Подготовка мелкодисперсных образцов для микроскопии |
Лазерная система Opotek Vibrant LD 355 II |
1. Генерация излучения в видимом, ультрафиолетовом и инфракрасном диапазонах 2. Проведение исследований нелинейных оптических свойств нанообъектов 3. Модификация поверхности |
Прецизионный отрезной станок Isomet 1000 |
1. Прецизионная резка |
Автоматический гидравлический пресс Simplimet 1000 |
1. Пробоподготовка - горячая запрессовка |
Оборудование для холодной заливки Cast n'Vac Castable Vacuum System |
1. Пробоподготовка - холодная заливка |
Шлифовально-полировальный станок EcoMet 250+AutoMet 250 |
1. Шлифовка залитых образцов 2. Полировка залитых образцов |
Вибрационный полировальный станок VibroMet 2 |
1. Прецизионная полировка образцов |
Микротвердомер Micromet 5114 |
1. Измерение твердости 2. Численная обработка измерений |
Автоматический газовый пикнометр Ultrapycnometer 1200e |
1. Определение истинной плотности материалов 2. Определение истинного объема материалов |
Высокоскоростной анализатор площади поверхности и размеров пор Nova 1000e |
1. Измерение удельной площади поверхности по методам БЭТ и STSA 2. Анализ размеров пор 3. Анализ распределения пор по размерам |
Высокотемпературный дилатометр DIL 402 E7/G-Py |
1. Определение зависимости изменения длины образца при его нагревании или охлаждении |
Термоанализатор STA 449 F1 Jupiter QMS 403 Aëolos |
1. Термогравиметрические измерения 2. Калориметрические измерения 3. Масс-спектрометрические измерения |
Установка статических механических испытаний |
1. Проведение механических испытаний на сжатие, изгиб, ползучесть при температурах до 2200°С в вакууме 2. Проведение механических испытаний на сжатие, изгиб, ползучесть при температурах до 2400°С в инертном газе |
Методики выполнения измерений
Методики выполнения измерений, разработанные Центром по применению нанотехнологий в энергетике и электроснабжении космических систем АО ГНЦ «Центр Келдыша»:
-
Методика измерений размеров наночастиц в суспензии методом сканирующей электронной микроскопии. Свидетельство об аттестации методик измерений № 01.00225-008/31-11 от 21.03.2011 г.
-
Методика измерений размеров наночастиц в суспензии методом динамического рассеяния света. Свидетельство об аттестации методик измерений № 01.00225-008/32-11 от 21.03.2011 г.
-
Методика измерений геометрических параметров сферических нанопорошков методом атомно-силовой микроскопии. Свидетельство об аттестации методик измерений № 01.00225-008/35-11 от 14.10.2011 г.